1) 现有各类集成电路测试程序及适配器
2) 可测试从消费类芯片到复杂的SoC芯片(包括:数字、模拟、混合信号)
3) 可测试筛选各种大功率集成电路,电压最高2000V,电流最大100A。
4) 可测通用A/D转换器、D/A转换器、模拟开关、运算放大器(含功率运放)、电压比较器、电源管理器件(电压调整器、多端智能稳压器、精密电压基准、脉宽调制器PWM、DC转换控制电路、电源监控电路等)、数字电位计、驱动电路、收发器、压频/频压转换器、采样保持器、电压跟随器、时基电路、达林顿阵列等模拟与混合类器件的交、直流参数测试
1) 可测试二极管、三极管、可控硅、场效应管、绝缘栅双极三极管(IGBT)、达林顿矩阵、光电耦合器和固态继电器等类型器件。测试项目近百个,除温度、高频等参数外,涵盖了这几类器件在国标上列出的绝大部分测试参数。
2) 可测MOSFET与IGBT的动态参数如开关特性、短路特性、二极管的反向恢复特性;额定测试电流不超过 300A;测试电压不超过 4000V。
3) 可测FET/IGBT/Diode(非钳位)和双极性器件(带钳位)的雪崩击穿特性(电压/能量等)。
l 模块类:
可测各种电源以及定制混合集成电路模块等
可测电磁继电器、固态继电器(包括智能功率开关)、光电耦合器等
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